ПН-ПТ 9:00-18:00

Система пробоподготовки ALLIED MultiPrep™

Краткое описание

Система MultiPrep ™ обеспечивает точную полуавтоматическую пробоподготовку широкого спектра материалов для микроскопического анализа (оптического, сканирующей электронной микроскопии - SEM, ионно-лучевой литографии - FIB, просвечивающей электронной микроскопии - TEM, атомно-силовой микроскопии - AFM, и т.д.) Возможности включают: параллельную полировку, полировку под углом или полировку характерной для данной пробы. Система обеспечивает хороший результат независимо от уровня пользователя.

 Сделано в США
Типы доставки
  • Самовывоз товара ежедневно с 9:00 до 18:00
  • Транспортной компанией в указанное время
Описание

Система MultiPrep ™ обеспечивает точную полуавтоматическую пробоподготовку широкого спектра материалов для микроскопического анализа (оптического, сканирующей электронной микроскопии - SEM, ионно-лучевой литографии - FIB, просвечивающей электронной микроскопии - TEM, атомно-силовой микроскопии - AFM, и т.д.) Возможности включают: параллельную полировку, полировку под углом или полировку характерной для данной пробы. Система обеспечивает хороший результат независимо от уровня пользователя.

 Сделано в США
Технические характеристики
Двойной микрометр (крена и тангажа) позволяет точно скорректировать угол наклона образца по отношению к абразивному диску.

Цифровые показатели на фронтальной панели показывают количественное удаление материала. Также можно установить предварительные значения для работы, не требующей постоянного присмотра.

Различная скорость вращения и колебания максимизируют использование всего диска шлифовки/полировки и снижают до минимума нежелательные искажения. Регулируемая нагрузка дает возможность подготовки различного ряда образцов от маленьких (тонких) до больших. Приспосабливаемый контроль загрузки позволяет работать как с маленькими, так и с большими образцами.

  • Цифровые индикаторы позволяют удалять пробу из тигля, которые контролируется в реальном времени или задаются автоматически
  • Шпиндель устанавливает образец перпендикулярно к диску и в тоже время может поворачиваться
  • Двойной микрометр (крена и тангажа) позволяет точно скорректировать угол наклона образца по отношению к абразивному диску, угол наклона +10/-2,5°, точность 0.01°
  • Задний цифровой индикатор отображает вертикальное положение с функцией обнуления, точность 1 мкм
  • Автоматическое колебание регулируется 6-ю скоростями
  • Система креплений устраняет необходимость дополнительных инструментов
  • Полное или ограниченное автоматическое вращение с 8-ю скоростями
  • Переменная типовая нагрузка, 0-600 г, с шагом 100г
  • Переменная скорость пластины (тигля): 5-350 об/мин (шаг - 5 об/мин)
  • Контроль с помощью сенсорных переключателей
  • Двигатель 190 Вт
  • Цифровой таймер и тахометр
  • Вращение тигля по/против часовой стрелки
  • Промывное устройство чаши для предотвращения наслоения грязи
  • Электронный контроллер охлаждения с регулируемым клапаном
  • Размеры: 
    система 203 мм 381 x 660 x 508 мм (Ш/Г/В);
    система 305 мм 560 x 660 x 535 мм (Ш/Г/В);
  • Масса:
    система 203 мм 57 кг;
    система 305 мм 75 кг;
Дополнительно
КОМПЛЕКТАЦИЯ MultiPrep™, с диском 305 мм
15-2000-12-230 Система MultiPrep™ с диском 305 мм, 230 В, включает
№10-1010 алюминиевую пластину (диск) 305 мм, брызговое кольцо, защитное покрытие диска
№15-1020 Крепление параллельной полировки
№15-1030 Калибровочный набор с индикатором и видео CD с описанием управления процедурой выравнивания MultiPrep.

КОМПЛЕКТАЦИЯ MultiPrep™, с диском 203 мм
15-2000-GI-230 Система MultiPrep™ с диском 203 мм, 230 В, включает
№10-1005 алюминиевую пластину (диск) 203 мм, брызговое кольцо, защитное покрытие диска
№15-1020 Крепление параллельной полировки,
№ 15-1030 Калибровочный набор с индикатором
№50-30076 Набор перекрывающих алмазных пленок 203 мм
№90-150-350 Набор красных финишных полирующих тканей с задним клеевым слоем
№180-25015 Коллоидальная суспензия диоксида кремния 0.04 микрон, объем 0,47 л и видео CD с описанием управления процедурой выравнивания MultiPrep.

№15-1005
Адаптер с зажимом
№15-1013
Клин-лопасть для TEM, FIB микроскопии со вставкой из жаропрочного стекла
№15-1010
Лопасть поперечного сечения
№15-1010-RE
Лопасть поперечного сечения с референсным углом
№15-1014
Клин-лопасть для TEM, FIB микроскопии для утончения
№15-1018
Крепление для подготовки к SIMS, TEM микроскопии
№15-1020
Крепление параллельной полировки, 57 мм
№15-1020-80 или №15-1020-100
Крепление параллельной полировки, 80 или 100 мм
№15-1025
Держатель пробы, диаметр 38 мм
№15-1035
Весовой набор
№15-1045
Многоцелевое крепление образца, ширина 51 мм
№15-1046
Многоцелевое диагональное крепление, ширина 51 мм
№15-1047
Многоцелевое крепление образца, ширина 24 мм
№15-1048
Многоцелевое диагональное крепление, ширина 24 мм
№15-1050
Лопасть для поперечного сечения с зажимом
№15-1051
Лопасть для поперечного сечения с зажимом диагональной ориентации
№120-30015
Измерительная система с цифровым индикатором

Подберем комплекс оборудования для ваших задач контроля
Сэкономьте время при подборе оборудования
Наши специалисты проконсультируют Вас по любым вопросам и помогут подобрать оборудование, подходящее под конкретные задачи
Оставьте заявку на консультацию
Настоящим подтверждаю, что я ознакомлен и согласен с условиями политики конфиденциальности и даю согласие на обработку персональных данных
ПН-ПТ 9:00-18:00
+7 (495) 283 0023
Сервисный Центр
+7 (495) 969 2788
info@monotest.ru