Часы работы:
ПН-ПТ 9:00-18:00

Как выбрать неразрушающий контроль именно для ваших задач?

НПП «МОНОТЕСТ» — лидирующая компания на российском рынке в области производства и поставок оборудования неразрушающего, разрушающего контроля и технической диагностики. Компания производит высококачественное оборудование под собственными брендами: МОНОСКАН, СКРИНТЕСТ, ФЛЭТ ВИЖН, ЭЛЕМЕНТ 5000, ФОТОН ПРО и М-ТЕСТ. Помимо этого, НПП также является эксклюзивным дилером и партнёром ведущих мировых концернов.

СКАЧАТЬ КАТАЛОГ

Выявляемость дефектов по пятибальной шкале

Тип дефекта Вид дефекта Выявляемость
Радиографический контроль (РК) Ультразвуковой контроль (УЗК) Магнитопорошковый контроль (МК) Капиллярная дефектоскопия (КД)
объёмные поры, включения 4 4 2 0
непровары 3 4 3 0
плоскостные трещины (внутренние) 4 5 3 0
трещины (поверхностные, подповерхностные) 2 3 4 4

Наши клиенты

Заказчиками компании «Монотест» являются более 2000 промышленных предприятий России, в числе которых ОАО «Газпром», ЗАО «Трансмашхолдинг», ОАО «АК «Транснефть», ОАО «НК «Роснефть», ОАО «ТНК-ВР Холдинг», Госкорпорация «Росатом», ОАО «РЖД», ФСК «ЕЭС».

                                     



  Banner3   Banner1   Banner2  

Производители

  • Toreck
    Toreck
  • United
    United
  • viZaar
    viZaar
  • Oxford Instruments
    Oxford Instruments
  • Carl Zeiss
    Carl Zeiss
  • General Electric
    General Electric
  • Zetec
    Zetec
  • VJ Technologies
    VJ Technologies
  • Rigaku
    Rigaku
  • Agilent Technologies
    Agilent Technologies
  • Bosello
    Bosello
  • Colenta
    Colenta
  • Panametrics-NDT
    Panametrics-NDT
  • Danatronics
    Danatronics
  • Fluke
    Fluke
  • Golden Engineering
    Golden Engineering
  • Horiba
    Horiba
  • Olympus
    Olympus
  • Sonel
    Sonel
  • ACTA CND
    ACTA CND
  • Allied
    Allied
  • Sonotec
    Sonotec
  • Fujifilm
    Fujifilm
  • Accretech
    Accretech

  • Анализатор Х-МЕТ 7500
    Xmet

    Представляем Вашему вниманию новинку от компании Oxford Instruments - анализатор X-MET 7500 с возможностью анализа «легких элементов» Mg, Al, Si, P, S.